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PRODUKTE
Produktbeschreibung
SRP-4-Spitzen sind Teile der SRP-4-Sonde, die im Vergleich zu der gesamten Sonde austauschbare und niedrige Kosten sind
SRP-4-Sondenspitzen sind austauschbar
1. Wenn die Sondenspitze beschädigt ist, kann sie rechtzeitig vor Ort ersetzt werden, was einfach zu bedienen ist und die Ausfallzeit des Geräts minimiert
2. Der Austausch der Spitze reduziert die Kosten für den Austausch der gesamten Sonde
3. One-Stop-Service: Unsere umfassende Produktpalette bietet eine vollständige Lösung für Ihre PCB/PWB- und Oberflächenkupferdicke-Messanforderungen.
SRP-4-Kristallspitzenbeschreibung:
SRP-4-Sonde Die gebundene SRP-4-Sonde verfügt über ein robustes, zuverlässiges Kabel für Feldanwendungen. Darüber hinaus ist der kleine Fußabdruck des SRP-4 bequem und benutzerfreundlich.
Spezifikationen: Genauigkeit: ± 1% (± 0,1 μm) unter Bezugnahme auf Standards
Präzision: Elektrolöser Kupfer: 0,2 % Standardabweichung Typisch Electrodeposiertes Kupfer: 0,5 % Standardabweichung typisch
Auflösung: 0,01 mil> 1 mil, 0,001 mil <1 mil, 0,1 μm> 10 μm, 0,01 μm <10 μm, 0,001 μm <1 μm
Dickerbereich: Elektrolöser Kupfer: 10 μin - 500 μin (0,25 & mgr; m - 12,7 μm), elektrodediertes Kupfer: 0,1 MIL bis 6 mil (152 uM),
Messung der Feine Linie: Spurbreite 8 mil bis 250 mil (203 UM - 6350 Um)
Speicherkapazität: 13.500 Lesungen
Abmessungen: 5 7/8 ”(l) x 3 1/8” (W) x 1 3/16 ”(d) (14,9 x 7,94 x 3,02 cm)
Gewicht: 9 oz (0,26 kg) einschließlich Batterieeinheiten: Automatische Umwandlung zwischen Imperial und Metrik mit einem Tastenanschlag
Batterie: 9 V Alkaline
Akkulaufzeit: 65 kontinuierliche Stunden
Schnittstellen
Anzeige: Vierstellige LCD-Anzeige, zweistelliger Speicherort, 1/2 ”(1,27 cm) Zeichenhöhe
Statistische Anzeige: Anzahl der Lesungen, Standardabweichung, Mittelwert, hoch, niedrig
Statistischer Bericht (wenn mit einem seriellen Drucker oder PC -Download verbunden): Speicherort, Anzahl der Messwerte, Kupfertyp, Spurenbreite der feinen Linie, Datum/Uhrzeit, Mittelwert, Standardabweichung, prozentuale Abweichung, Genauigkeit, Hoch, niedrig, Bereich, CPK , Einzellesungen, Zeitstempel, Histogramm
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