Welltronics Technology Limited

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Hitachi Oxford CMI165 Oberflächenkooper -Dicke
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Hitachi Oxford CMI165 Oberflächenkooper -Dicke

$3600≥1Set/Sets

Zahlungsart:Paypal,T/T
Incoterm:EXW
Minimum der Bestellmenge:1 Set/Sets
Transport:Air,Express
Hafen:S,h,e
Produkteigenschaften

ModellCMI165

MarkeHitachi

HerkunftsortJapan

EnergieElektronisch

Verpackung & Lieferung
Verkaufseinheiten : Set/Sets
Pakettyp : 1 Set/Pack
Bildbeispiel :

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Produktbeschreibung

Verwendung von CMI165

Es wird verwendet, um die eingehende Cooper -Folie vor dem Bohr-, Schneiden, Überziehen und anderen Prozessen zu inspizieren.
Das Oxford-Instrument CMI165 ist eine benutzerfreundliche, robuste, handgehaltene Kupferfoliendicke mit Temperaturkompensation. Dieses vielseitige Handheld -Messinstrument ist mit einer Schutzabdeckung für einfache Tragbarkeit, Haltbarkeit und Zuverlässigkeitsdesign für die Verwendung in harten Umgebungen ausgestattet. Die automatische Temperaturkompensation ermöglicht eine Online-Erkennung und liefert die Messung der Temperatur beim Plattieren von Kupfer.

CMI 165 Cooper Dicke Tester Merkmal:

1. Die Linienbreite nach dem Ätzen kann gemessen werden und der Testbereich ist feiner (der Leitungsbreitenbereich kann 0,2 mm (8 MILs) gemessen werden);
2, ausgestattet mit SRP-T1-Sondenspitzen mit Temperaturkompensationsfunktion, können die Dicke der Kupferfolie mit hoher/niedriger Temperatur testen, und diese Sonde hat eine Beleuchtungsfunktion.
3, batteriebetrieben, Handheld, leicht zu messen vor Ort;
4, nicht zerstörerische Tests;
5 Erhalten Sie eine hohe Präzisionsmessung von bis zu 5%;
6, langlebende Leerlauf (1 Minute) automatische Abschaltung;
7, Anzeigeeinheit kann MILS, UM oder OZ und englische Schnittstellenkonvertierung sein.
8, SRP-T1-Sonde kann vom Kunden ersetzt werden, nachdem Austausch und Kalibrierung verwendet werden können.
9, die Datenstatistikfunktion, einschließlich Datenaufzeichnungen, Durchschnittswert, Standardabweichung sowie Reminder -Funktion der oberen und unteren Grenze

Technische Daten für CMI165

Thickness range of chemical Cu:

0.25-12.7)um,(0.01-0.5)mils

Thickness range of electroplating Cu

2.0-254)um,(0.1-10)mils

About store The instrument can store 9690 test results (test date and time can be set by oneself)
Testing accuracy     ±5%
Brand Hitachi(Original Oxford)
Configuration CMI165 tester+SRP-T1 probe tip+1/2 oz surface Cu calibration standard
   


*** Kupferdicke wird durch eine Vier-Pol-Sonde unter Verwendung des Mikrores-Prinzips gemäß dem EN14571-Teststandard gemessen

CMI165

 

CMI95M   

CMI165

CMI511(CMI500)

CMI563

CMI760(CMI700)

Technique

Microresistance 

microresistance

Eddy curreny

microresistance

microresistance

Cooper Foil

×

Cooper Clad Laminate(CCL)

×

Cooper-Surface

×

×

Cooper-Fineline

×

×

Cooper Thru-hole

×

×

×

optional

Temperature Compensation

×

×

√ (ETP Probe)

Replacement Probe Tip

×

×

√ (SRP-4 Probe)

Unit Selection

oz or um

mil or um

mil or um

mil or um

mil or um

 

 

 

 

 

 

Thickness Range

8 indicator lights

1/8-4 oz

5-140 um

Electroless Cu

0.01-0.5 mil

0.25-12.7 um

Electroplated Cu

0.1-10 mil

2-254 um

0.08-4.0 mil

2-102 um

Electroless Cu

0.01-0.5 mil

0.25-12.7 um

Electroplated Cu

0.1-6 mil

3-152 um

Surface Cu

0.01-10 mil

0.25-254 um

Thru-hole Cu

0.05-4 mil

1-102um

Oxford Cmi165Cmi165 1

welltronics
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