Welltronics Technology Limited

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Hitachi CMI 500 PTH Loch Cooper ETP -Sonde
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Hitachi CMI 500 PTH Loch Cooper ETP -Sonde

Hitachi CMI 500 PTH Loch Cooper ETP -Sonde

$750≥1Piece/Pieces

Zahlungsart:T/T,Paypal
Incoterm:FOB,CFR,CIF,EXW,FCA,DDU
Minimum der Bestellmenge:1 Piece/Pieces
Transport:Air,Express
Hafen:Shenzhen
Produkteigenschaften

ModellETP

MarkeHitachi (Oxford)

HerkunftsortVereinigte Staaten

ModelETP

MarkeHitachi(Oxford)

Suit For Machine ModelCMI500, CMI700

Verpackung & Lieferung
Verkaufseinheiten : Piece/Pieces
Pakettyp : Individuell gepackt mit PE -Bag, 1 PCs/Box
Bildbeispiel :

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ETP CMI500 16: 9
Hitachi ETP -Sonde
Produktbeschreibung

Beschreibung:

Hitachi Original importierte ETP -Sonde:
ETP-PTH-Lochsonde ist Hitachi CMI700/CMI500 Instrument Specisal Probe, langlebig, Testleben kann das 80.000-100.000-fache erreichen, ist der Oxford-Loch-Kupfer-Tester Langzeitverbrauch, ETP-Sonde für CMI700, CMI500 Tests.


Oxford Instrumentenlochoberfläche Kupferdicke ETP -Sonde Merkmale:

PTH Hole ETP -Sonde A Pplies Eddy Current Testing Technology. Die elektromagnetische Welle wird während der Messung durch die Sonde freigesetzt. Wenn das Magnetfeld die Metallschicht schneidet, ändert sich das Magnetfeld und die Kupferdicke der Lochwand wird durch Berechnung dieser Änderung berechnet. Die Messung wird nicht durch die innere Schicht des Boards, sogar die Doppelschicht- oder mehrschichtige Platine, beeinflusst, und selbst bei Zinn- oder Zinn-/Blei-Schutzbeschichtung funktioniert sie gut. Darüber hinaus verwendet die Sonde die Temperaturkompensationstechnologie, um die Kupferdicke der Loch zu messen, selbst wenn die Platte gerade aus dem Beschichtstank entfernt wird.


Technologiedaten für Hitachi ETP -Sonde:

Genauigkeit: ± 0,01 Mio. (0,25um) <1mil (25um)

Auflösung: 0,01 MILs (0,25um)

Wirbelstrom : Einhalten Sie ASTM E37696 Standardregulierung

Dicke der Prüfung der Dicke: 0,08-4,0 MILs (2-102um)

Min Loch Dia: 35mil (899um)

Lochdurchmesser: 0,899 mm-3,0 mm

Etp ProbeEtp Probe

Cmi700 Etp Probe Srp 4 ProbeEtp Probe

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